对比参考试块

标准试块|4A测厚阶梯试块标准厚度块|GHF试块4|GZ试块5|半圆试块SH-16|模拟试块H-30|模拟试块H-50|模拟试块H-807|灵敏度试块CS-1|灵敏度试块A1|灵敏度试块A2|对比试块DZ-1|盲区试块|微盲区试块STM-1、 STM-2|水平线性试块1-3#|分辨力试块|射线阶梯试块|提升力试块|A型便携式相控阵试块|B型便携式相控阵试块||


1、GB/T11344-2008标准试块


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2、JJF 1126-2004超声波测厚仪校准规范试块

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3、GHF试块

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4、GZ试块

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5、半圆试块SH-1

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6、模拟试块H-30、模拟试块H-50、模拟试块H-80


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7、灵敏度试块CS-1

主要用于测定直探头和仪器组合的灵敏度余量,调节探伤灵敏度,确定缺陷大小及测定仪器的垂直线性等性能指标及形状。尺寸和形状如下图表:

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8、灵敏度试块A1

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9、灵敏度试块A2

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10、对比试块DZ-1

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11、盲区试块

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12、直流环形标准试块(磁探专用B型试块

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13、E型试块(交流专用)


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14、微盲区试块STM-1、 STM-2

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15、水平线性试块1-3#

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16、分辨力试块

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17、射线阶梯试块

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18、提升力试块


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19、A型便携式相控阵试块

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20、B型便携式相控阵试块

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